AEC系列振動、沖擊測試的目的
AEC系列振動測試旨在評估電氣設(shè)備中使用的部件。它的目的是確定部件承受由運(yùn)輸或現(xiàn)場操作產(chǎn)生的運(yùn)動引起的中等到嚴(yán)重振動的能力。這種類型的振動可能會干擾工作特性。特別是重復(fù)的應(yīng)力會導(dǎo)致部件疲勞破壞。這是一種用于部件鑒定的破壞性試驗。
振動、沖擊測試的夾具設(shè)計及其要求
振動、沖擊試驗中夾具的主要功能是將振動、沖擊臺產(chǎn)生的能量傳遞給試件，一個好的夾具應(yīng)至少滿足下列要求：
1） 能方便的將試件固定到臺面上；
2）在整個試驗頻率范圍內(nèi)，夾具的頻響特性要平坦，夾具的第一階固有頻率應(yīng)高于最高試驗頻率，還應(yīng)避免夾具與產(chǎn)品的共振耦合；
3）夾具與產(chǎn)品的連接面上的各個連接點的相應(yīng)要盡量一致，以確保試驗時的激勵輸入的均勻性；
4）夾具的剛度和質(zhì)量比要足夠大。
AEC系列振動測試標(biāo)準(zhǔn)及測試條件
接受條件：0失效
測試方法：JEDEC JESD22-B103
標(biāo)準(zhǔn) | 測試對象 | 測試數(shù)量 | 測試條件 |
AEC Q100 | 集成電路 | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
AEC Q101 | 離散半導(dǎo)體 | 僅針對密封件 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度50g； |
AEC Q102 | 離散光電半導(dǎo)體器件 | 3批次中各取10個 | 20Hz~100Hz 峰峰值位移：0.06inch; 100Hz~2000Hz,加速度20g； |
AEC Q103-002 | 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件 | 3批次中各取39個 |
M1等級：20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g |
AEC Q103-003 | 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件 | 3批次中各取12個 | 20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＜12min，每軸向4次；峰值加速度20g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
AEC Q104 | 多芯片模塊(MCM) | 15 | 20Hz~2000Hz~20Hz（對數(shù)掃頻）＞4min，每軸向4次；峰值加速度50g;測試前后的性能檢查在常溫下 |
AEC系列沖擊測試標(biāo)準(zhǔn)及測試條件
接受條件：0失效
測試方法：JEDEC JESD22-B110
標(biāo)準(zhǔn) | 測試對象 | 測試數(shù)量 | 測試條件 |
AEC Q100 | 集成電路 | 15 | 僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進(jìn)行。 |
AEC Q101 | 離散半導(dǎo)體 | 僅針對密封件 | 1500g，0.5ms,5次/方向，±XYZ共30次，前后都要測試電氣參數(shù) |
AEC Q102 | 離散光電半導(dǎo)體器件 | 3批次中各取10個 | 1500g,0.5ms，5擊，3次/方向。 在MS前和MS后的測試，或僅在CA前和MS后進(jìn)行測試。 |
AEC Q103-002 | 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)壓力傳感器器件 | 3批次中各取39個 | M1級： •測試條件：每軸雙向5個脈沖，0.3ms持續(xù)時間，6000g峰值加速度等級M2： •測試前：下列每次測試#G3的恒定加速度（CA） •測試條件：每軸雙向10個脈沖，0.3ms持續(xù)時間，6000g峰值加速度 替代測試條件：依照任務(wù)剖面（安裝位置定義的機(jī)械條件） 室溫下MS前后測試。 后測試：IV（PS11）和WBP（C2）進(jìn)行5個裝置的測試。 |
AEC Q103-003 | 微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)麥克風(fēng)器件 | 3批次中各取12個 | 3個脈沖，0.5毫秒持續(xù)時間，在X、Y和Z平面的10000g峰值加速度。室溫下進(jìn)行震動前后測試。 |
AEC Q104 | 多芯片模塊(MCM) | 15 | 僅Y1平面，5次沖擊，脈沖持續(xù)時間0.5ms，峰值加速度1500g。MS前后的測試在室溫下進(jìn)行。 |
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